Ein Fehlermodell stellt eine Abstraktion physikalischer Fehlermechanismen dar. Ein spezifisches Modell deckt jeweils nur eine Untermenge von Fehlermechanismen ab, es gibt deshalb zahlreiche unterschiedliche Modelle, die sich teilweise auch überlappen.
Wegen der Komplexität des Testproblems benutzt man in der Regel sehr einfache Fehlermodelle, die sich jedoch in der Praxis bewährt haben. Das bekannteste ist das so genannte Haftfehlermodell (Stuck-at-0/1), das von folgenden Voraussetzungen ausgeht:
- Fehler treten nur in Verbindungsleitungen (Netzen) auf.
- Ein Fehler äußert sich stets in der Art, dass ein Netz ständig auf logisch 0 (stuck-at-0, sa 0) oder logisch 1 (stuck-at-1, sa 1) festgehalten wird.
- Die Schaltung enthält nur einen Fehler (Einzelhaftfehlermodell).
Das Haftfehlermodell ist das klassische Fehlermodell. Alle anderen Modelle beschreiben so genannte nicht-klassische Fehler, dazu gehören:
- Stuck-open-Fehler ("offener" Schaltungsknoten)
- Verzögerungsfehler (verzögerte Signalflanke)
- Übergangsfehler (ausbleibende Signalflanke)
- Stuck-on-Fehler (ständig eingeschalteter Transistor)
- Brückenfehler (Kurzschluss zwischen zwei Knoten)
- Crosstalk - Fehler (Fehler durch Übersprechen)
Haftfehler sind physikalisch gesehen Verbindungen zwischen einem Knoten und einer Versorgungsspannungsleitung (Masse, VDD). Das Haftfehlermodell hat folgende Vorteile:
- Wegen seiner Einfachheit lässt es sich leicht in Algorithmen zur automatischen Testmustergenerierung einbauen.
- Es modelliert eine relativ große Menge physikalischer Defekte.
- Es ist technologieunabhängig, da auf der Gatterebene angesiedelt.