Man unterscheidet drei Arten von Eingangsstimuli:
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Funktionelle Testmuster
Der Entwickler erstellt, ausgehend von der Funktion des Prüflings, manuell Eingangsstimuli. Jede spezifizierte Funktion ist durch sie einmal anzusprechen. Je komplexer der Baustein ist, desto schwieriger gestaltet sich die manuelle Erstellung. Automatische Verfahren können nur in einfachen Fällen verwendet werden.
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Strukturelle Testmuster
Die Eingangsstimuli werden entsprechend der logischen Schaltungsstruktur durch Stimuligeneratoren automatisch berechnet. Eine Reihe von Algorithmen (z.B. D-Algorithmus, PODEM-Algorithmus, FAN-Algorithmus) wurde dazu entwickelt. Die Schaltungskomplexität, besonders die sequentielle Tiefe, verschlechtert die Effizienz der Algorithmen. Durch geeignete Strukturmaßnahmen in der Schaltung oder durch Zusatzschaltungen kann die Effizienz jedoch wieder verbessert werden.
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Zufällige Testmuster
Zufallstestmuster können auf einfache Weise generiert werden. Sie werden häufig als Ergänzung funktioneller Testmuster eingesetzt.
Wichtig ist es, eine Aussage zu treffen, welche Qualität die ausgewählten Testmuster besitzen, d.h. die Frage zu beantworten, welche Fehler erkannt werden können. Für ein internes Netz wird dabei berechnet, ob mit den vorhandenen Testmustern der Fehlerfall beobachtet werden kann. Zusätzlich wird ein Fehlerabdeckungsgrad als Maß für die Vollständigkeit der Fehlererkennung angegeben. Es errechnet sich aus der Anzahl der erkannten Fehler bezogen auf die Anzahl aller möglichen Fehler entsprechend dem zugrunde gelegten Modell. Zur Berechnung des Fehlerabdeckungsgrads werden so genannte Fehlersimulatoren eingesetzt.