Die Testkosten sind bei der Herstellung integrierter Schaltungen ein wesentlicher Faktor. Sie steigen mit wachsender Komplexität. Ein wesentlicher Grund dafür ist, dass die Anzahl externer Anschlüsse nicht im gleichem Maße steigt, wie die Anzahl integrierter Transistoren. Hieraus folgt, dass die Zahl interner Zustände, die beim Test zu durchlaufen ist, zunimmt, wodurch die Testzeit und damit die Testkosten steigen.