Der Scan-Test dient dazu, während des Tests alle Werte von internen Flip-Flops nach außen zu führen. Die Flips-Flops sind dazu untereinander verkettet (Scan Chain) und das Ende Kette über einen Pin nach außen geführt. Dadurch können die Werte seriell nach außen zum Test geführt werden. Die Flip-Flops müssen dazu in einen sogenannten Shift-Betrieb geschaltet werden. Das Verketten der Scan Chain wird von speziellen EDA-Werkzeugen automatisiert durchgeführt.